柔性平板探测器一直是X射线平板探测器发展的技术瓶颈。
福州大学的杨煌豪教授和陈秋水教授的研究小组提出了高能X射线光子诱发的缺陷产生持久发光的机理，打破了传统X射线平板探测器的固有特性。
局限性为制备新一代柔性X射线成像设备提供了新的思路和方法。
2月18日，“自然”出版了他们的合作研究论文“高分辨率X射线发光扩展成像”。
在线的。
X射线成像技术在医学诊断，安全检查和工业无损检查中具有广泛而重要的应用。
当前，大多数X射线平板探测器需要集成薄膜晶体管阵列，非晶硅光电转换层和闪烁体。
然而，在制造大面积的柔性薄膜晶体管阵列和非晶硅光电转换层方面仍然存在巨大的技术挑战，因此难以开发柔性平板检测器。
使用刚性平板检测器很难对弯曲或不规则目标进行三维X射线成像。
为了克服这一技术瓶颈，杨煌豪，陈秋水和他们的合作者发现了一类高性能的X射线发光纳米闪烁体，它结合了光谱技术，电子顺磁共振表征，热光曲线分析和密度泛函理论计算。
，同步辐射技术研究了晶格缺陷的本质，并提出了高能X射线光子诱导的缺陷产生长余辉发光的机理。
发光机理的建立对新型卤化物长余辉材料的探索与合成具有指导意义。
研究表明，稀土纳米晶闪烁体具有尺寸易于控制，无色透明，分散性好，余辉性能优良的特点。
因此，研究团队将其与柔性基板相结合，以制备不需要电子电路的透明，可拉伸，柔性X射线成像设备。
实现灵活的高分辨率全景X射线成像，与传统的平板探测器相比，它具有明显的优势。
据报道，基于纳米闪烁体的柔性X射线成像设备具有制备过程简单，携带方便，成本低廉，成像性能优异的优点。
它用于便携式X射线探测器，乳腺成像，牙科全景成像，工业缺陷检测，高能物理等领域。
显示出巨大的潜力和应用价值。
目前，我国的高端X射线成像设备和关键部件主要依靠进口。
杨煌豪团队的成就表明，我国在柔性X射线成像技术上已进入国际先进行列，有望突破国外的技术局限，促进高端X射线的国产化。
射线成像设备。
原标题：高分辨率X射线发光扩展成像机理分析文章来源：[微信公众号：中国科学院长春光学力学研究所]欢迎大家关注！请指出转载文章的来源。